Publikationen
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TETO, Jean Oscard Domguia; SEEWIG, Jörg. Adaptive IIR Filtering For Online System Identification With Stability Monitoring. In: 2021 9th International Conference on Control, Mechatronics and Automation (ICCMA). IEEE, 2021. S. 146-151.
TETO, Jean Oscard Domguia; SEEWIG, Jörg. Stabilization of Nonlinear Continuous Systems Based on Discrete Integrator Backstepping. In: 2021 9th International Conference on Control, Mechatronics and Automation (ICCMA). IEEE, 2021. S. 84-89.
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Basten, S.; Kirsch, B.; Ankener, W.; Smaga, M.; Beck, T.; Uebel, J.; Seewig, J.; Aurich, J.C.: Influence of different cooling strategies during hard turning of AISI 52100 - part I: thermo-mechanical load, tool wear, surface topography and manufacturing accuracy. Procedia CIRP 87 (2020): S. 77-82.
V. Schulze, F. Zanger, B. Stampfer, J. Seewig, J. Uebel, A. Zabel, B. Wolter, D. Böttger: Surface conditioning in machining processes, tm - Technisches Messen 1 (2020): S. 120-130.
Uebel, J.; Ankener, W.; Basten, S.; Smaga, M.; Kirsch, B.; Seewig, J.; Beck, T.; Aurich, J.C.: In-process and ex-situ measurement techniques for the characterization of surface conditions during cryogenic hard turning of AISI 52100. tm - Technisches Messen 1 (2020): S. 152-160.
Keksel, A.; Lohfink, A.P.; Eifler, M.; Garth, C.; Seewig, J.: Virtual topography measurement with transfer functions derived by fitted time series models. Measurement Science and Technology, 31 (2020), 055008.
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Klauer, K.; Eifler, M.; Kirsch, B.; Seewig, J.; Aurich J.C.: Correlation between different cutting conditions, surface roughness and dimensional accuracy when ball end micro milling material measures with freeform surfaces. Machining Science and Technology 24 (2020), 3, 446-464: [DOI: 10.1080/10910344.2019.1698611]
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Seewig, J.; Scott, P.J.; Eifler, M.; Barwick, B.; Hüser, D.: Crossing-The-Line Segmentation as a Basis for Rsm and Rc Evaluation. Surface Topography: Metrology and Properties 8 (2020), 024010: doi.org/10.1088/2051-672X/ab958c
Klauer, K.; Eifler, M.; Kirsch, B.; Seewig, J.; Aurich J.C.: Micro milling of areal material measures – Study on surface generation for different up and down milling strategies. Procedia CIRP 87 (2020), S. 13-18. 10.1016/j.procir.2020.02.073
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Uebel, J.; Ströer, F.; Basten, S.; Ankener, W.; Hotz, H.; Heberger, L.; Stelzer, G.; Kirsch, B.; Smaga, M.; Seewig, J.; Aurich, J.C.; Beck, T.: Approach for the observation of surface conditions in-process by soft sensors during cryogenic hard turning. Procedia CIRP 81 (2019): S. 1260-1265.
Eifler, M.; Hering, J.: Universalnormal zur Überprüfung metrologischer Eigenschaften – Eines für alle. Quality Engineering 01.2019, S. 36-37.
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Karatas, A.; Kölsch, D.; Schmidt, S.; Eifler, M.; Seewig, J.: Development of a convolutional autoencoder using deep neuronal networks for defect detection and generating ideal references for cutting edges. Proc. SPIE Vol. 11056, Optical Measurement Systems for Industrial Inspection XI, 1105623, 24.-27. Juni 2019, München.
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Seewig, J.; Eifler, M.; Bauer, W.; Wiora, G.: Das faire Datenblatt - Der heutige Stand und die Zukunft. 6. VDI-Fachtagung Optische Messung von Funktionsflächen 2018, VDI-Berichte 2326, S. 81-84.
Seewig, J.; Eifler, M.; Bauer, W.: Praxisgerechte Kalibrierung nach ISO 25178-700 - Eine Übersicht. 2. VDI-Fachtagung Multisensorik in der Fertigungsmesstechnik 2018, VDI-Berichte 2326, S. 213-216.
Keksel, A.; Eifler, M.; Seewig, J.: Modeling of topography measuring instrument transfer functions by time series models. Measurement Science and Technology (29), 2018, 095012.
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Anslinger, L.; Sivasothy, P.; Torner, F.; Seewig, J.: Mobile sensor concept for acoustic level estimation in bulk solids silos. In: IEEE Sensors Applications Symposium 2018: Termin und Ort: 12. - 14. März 2018, Seoul, Südkorea. DOI: 10.1109/SAS.2018.8336760
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