Analytik Prüfsysteme


Malvern Panalytical EMPYREAN

  • Röntgen-Generator: 4 kW (max. 60 kV, max. 100 mA)
  • Punkt- / Linienfokus
  • Goniometer-Winkelbereich: -111° < 2theta < 168°
  • Maximale Winkelgeschwindigkeit: 15° / s
  • Winkelauflösung (FWHM an LaB6): 0,026°
  • Programmierbare 5-Achsen-Stage (chi, phi, x, y, z)
  • Hoch- und Tieftemperatur-Stages
  • Cu-Kα-Röntgenröhre
  • PIXcel3D-Detektor

Malvern Panalytical X‘Pert Pro MRD

  • Röntgen-Generator: 3 kW
  • Punkt- / Linienfokus
  • Horizontales Goniometer (omega-2theta-System)
  • Goniometer-Winkelbereich: 3° < 2theta < 150°
  • Maximale Winkelgeschwindigkeit: 15° / s
  • Winkelauflösung: 0,001°
  • Cu-Kα-Röntgenröhre
  • Proportional-Detektor

FemtoTools FT-I04 Nanoindenter

  • Regelungsmodi: Kraft- und Eindringtiefenregelung
  • Auflösung: 500 pN, 50 pm
  • Eindringkräfte: bis 2.000 mN
  • Indentertypen: Berkovich, Cube Corner, Conical, Flat Punch, Dog Bone
  • Nanopositionierung: Stick-Slip-Piezoantrieb mit optischer Positionsmessung
  • Eindringtiefensensor: Piezo-Scanner mit kapazitiver Wegmessung
  • Kraftsensor: kapazitive MEMS- (Micro-Electro-Mechanical System-)Sensoren (uni- und biaxial)

TESCAN GAIA3


Lichtmikroskop


Kerr Mikroskop


FEI Quanta 600 FEG

  • Beschleunigungsspannung: 200 V bis 30 kV
  • Vergrößerungsbereich: 7x bis 1.000.000x
  • Hochvakuum: 6x10-4 Pa
  • Niedervakuum: 10 bis 130 Pa
  • SE- und BSE-Aufnahmen von Mikrostruktur, Bruchflächen etc.
  • EDX-Detektor (Energiedispersive Röntgenanalyse):
    • Analyse der chemischen Elemente mit Elementverteilungsbildern
  • EBSD (Electron Backscatter Diffraction):
    • Analyse der Korngrößen und der Kornorientierung
    • Korngrenzanalyse
    • Texturanalyse
    • Phasenanalyse

Ansprechpartner: Dr.-Ing. Marek Smaga