Analytik Prüfsysteme
Malvern Panalytical EMPYREAN
- Röntgen-Generator: 4 kW (max. 60 kV, max. 100 mA)
- Punkt- / Linienfokus
- Goniometer-Winkelbereich: -111° < 2theta < 168°
- Maximale Winkelgeschwindigkeit: 15° / s
- Winkelauflösung (FWHM an LaB6): 0,026°
- Programmierbare 5-Achsen-Stage (chi, phi, x, y, z)
- Hoch- und Tieftemperatur-Stages
- Cu-Kα-Röntgenröhre
- PIXcel3D-Detektor
Malvern Panalytical X‘Pert Pro MRD
- Röntgen-Generator: 3 kW
- Punkt- / Linienfokus
- Horizontales Goniometer (omega-2theta-System)
- Goniometer-Winkelbereich: 3° < 2theta < 150°
- Maximale Winkelgeschwindigkeit: 15° / s
- Winkelauflösung: 0,001°
- Cu-Kα-Röntgenröhre
- Proportional-Detektor
FemtoTools FT-I04 Nanoindenter
- Regelungsmodi: Kraft- und Eindringtiefenregelung
- Auflösung: 500 pN, 50 pm
- Eindringkräfte: bis 2.000 mN
- Indentertypen: Berkovich, Cube Corner, Conical, Flat Punch, Dog Bone
- Nanopositionierung: Stick-Slip-Piezoantrieb mit optischer Positionsmessung
- Eindringtiefensensor: Piezo-Scanner mit kapazitiver Wegmessung
- Kraftsensor: kapazitive MEMS- (Micro-Electro-Mechanical System-)Sensoren (uni- und biaxial)
TESCAN GAIA3
Lichtmikroskop
Kerr Mikroskop
FEI Quanta 600 FEG
- Beschleunigungsspannung: 200 V bis 30 kV
- Vergrößerungsbereich: 7x bis 1.000.000x
- Hochvakuum: 6x10-4 Pa
- Niedervakuum: 10 bis 130 Pa
- SE- und BSE-Aufnahmen von Mikrostruktur, Bruchflächen etc.
- EDX-Detektor (Energiedispersive Röntgenanalyse):
- Analyse der chemischen Elemente mit Elementverteilungsbildern
- EBSD (Electron Backscatter Diffraction):
- Analyse der Korngrößen und der Kornorientierung
- Korngrenzanalyse
- Texturanalyse
- Phasenanalyse
Ansprechpartner: Dr.-Ing. Marek Smaga